
20251025 半导体测试的phantom defect问题
Update: 2025-10-25
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半导体测试怕 “虚假缺陷”!误判会让合格芯片报废、良率难爬坡,还引发供应链追责(设计方与测试方互责);目前靠 AI 降误报、计量学排查探针 / 接口问题,但高可靠性领域仍需应对 “AI 幻觉” 风险
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半导体测试怕 “虚假缺陷”!误判会让合格芯片报废、良率难爬坡,还引发供应链追责(设计方与测试方互责);目前靠 AI 降误报、计量学排查探针 / 接口问题,但高可靠性领域仍需应对 “AI 幻觉” 风险