该研究阐述了X射线纳米断层扫描术（PXCT）的进展，该技术作为一种非破坏性替代方法，可用于绘制生物超微结构图，并指出辐射损伤通常限制了软组织的成像分辨率。为克服这一障碍，研究人员引入了新型的抗辐射环氧树脂（TGPAP-DDM），使脑组织样本能够耐受远超传统极限的辐射剂量。他们还结合使用了低温样品台以及先进的非刚性断层重建算法，分别用于最大程度地减少和计算补偿辐射引起的形变。这种结合方法实现了高分辨率成像，能够在小鼠脑组织中清晰显示低于40纳米的亚细胞特征。至关重要的是，该技术被证明能够可靠地识别用于连接组学的关键特征，例如树突和突触，并通过相关联的电子显微镜（EM）验证了即使在高剂量X射线暴露后，组织超微结构仍保持完整。这些突破为X射线断层扫描术成为一种可扩展且高可靠性的连接组学工具奠定了基础。

References:

• Bosch C, Aidukas T, Holler M, et al. Nondestructive X-ray tomography of brain tissue ultrastructure[J]. Nature Methods, 2025: 1-8.